X射線粉晶衍射儀分析磷化膜組成

X射線粉晶衍射儀分析磷化膜組成

利用X射線粉晶衍射儀對金屬板材及其磷化膜進行全譜和分段掃描,在確定鍍膜中存在Zn3(PO4)2·4H2O物相基礎上,求出Zn3(PO4)2·4H2O的(020)晶面和(241)晶面衍射峰積分或強度計數,計算出該樣品磷化膜的面比.

作 者： 遲廣成 趙愛林 宋麗華 CHI Guang-cheng ZHAO Ai-lin SONG Li-hua   作者單位： 沈陽地質礦產研究所,遼寧,沈陽,110032  刊 名： 巖礦測試  ISTIC PKU 英文刊名： ROCK AND MINERAL ANALYSIS  年，卷(期)： 2007 26(2)  分類號： P575.5  關鍵詞： X射線衍射法   磷化膜   面比  

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