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云紋倍增法的初步研究
云紋法是一種很簡便有效的測量方法,其設(shè)備簡單、對(duì)環(huán)境要求不高.在實(shí)際應(yīng)用的時(shí)候,可以由阿貝成像定理出發(fā)來實(shí)現(xiàn)云紋倍增,同時(shí)還可以進(jìn)行U場V場的濾波分離.
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