Xe-N2O復合物的分子間勢能面和振轉光譜的理論研究

Xe-N2O復合物的分子間勢能面和振轉光譜的理論研究

采用CCSD(T)方法研究了范德華分子體系Xe-N2O復合物的勢能面和振轉光譜性質.研究表明,該勢能面有兩個極小點,分別對應T構型和線性Xe-ONN構型.采用離散變量表象和Lanczos算法計算了體系的振轉能級.計算結果表明,CCSD(T)勢能面支持97個振動束縛態,并對能級進行了指認.計算得到的Xe-N2O轉動躍遷頻率與實驗值吻合得很好.

作 者： 陳軍憲 朱華 謝代前 鄢國森   作者單位： 陳軍憲,朱華,鄢國森(四川大學化學學院,成都,610064)

謝代前(四川大學化學學院,成都,610064;南京大學理論與計算化學研究所,化學系,南京,210093) 

刊 名： 化學學報  ISTIC SCI PKU 英文刊名： ACTA CHIMICA SINICA  年，卷(期)： 2004 62(1)  分類號： O6  關鍵詞： Xe-N2O   勢能面   振轉能級   躍遷頻率  

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