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(Pb1-xSrx)TiO3系鐵電薄膜的極化反轉特性
采用磁控濺射技術在Si基底上制備了(Pb1-xSrx)TiO3(簡稱PST)鐵電薄膜,采用雙極性、雙脈沖方波電壓測試了其極化反轉特性.測試結果表明,所制備的PST鐵電薄膜的電流密度峰值達10-4A/mm2量級,開關時間可達1.0 ms左右,極化反轉特性較好,有望未來在Si基集成單片紅外探測焦平面陣列研制中加以應用.
作 者： 鐘銳 王茂祥 簡余良 穆志純 ZHONG Rui WANG Maoxiang JIAN Yuliang MU Zhichun 作者單位： 刊 名： 固體電子學研究與進展 ISTIC PKU 英文刊名： RESEARCH & PROGRESS OF SOLID STATE ELECTRONICS 年，卷(期)： 2008 28(3) 分類號： O484 關鍵詞： 鈦酸鍶鉛 鐵電薄膜 磁控濺射 極化反轉【(Pb1-xSrx)TiO3系鐵電薄膜的極化反轉特性】相關文章：
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