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新型鉍膜電極溶出伏安法測定痕量重金屬元素
用碳納米管-Nafion-鉍膜修飾電極溶出伏安法測定了痕量重金屬元素Pb(Ⅱ)和Cd(Ⅱ).考察并優化了同時測定Pb(Ⅱ)和Cd(Ⅱ)的條件.結果表明:在0.1 mol/ L HAc-NaAc緩沖溶液(pH=4.5)和-1.20 V條件下攪拌富集120 s,Pb(Ⅱ)和Cd(Ⅱ)在碳納米管-Nafion-鉍膜修飾電極上可得到靈敏的溶出峰;采用2.5次微分陽極溶出法測定時,預富集10 min的Pb(Ⅱ)檢測限為10 ng/ L,Cd(Ⅱ)檢測限為15 ng/ L.
作 者： 王娜 董獻堆 WANG Na DONG Xian-dui 作者單位： 王娜,WANG Na(中國科學院長春應用化學研究所電分析化學國家重點實驗室,吉林,長春,130022;中國科學院研究生院,北京,100039)董獻堆,DONG Xian-dui(中國科學院長春應用化學研究所電分析化學國家重點實驗室,吉林,長春,130022)
刊 名： 東北師大學報（自然科學版） ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF NORTHEAST NORMAL UNIVERSITY NATURAL SCIENCE EDITION 年，卷(期)： 2008 40(3) 分類號： O655 關鍵詞： 碳納米管 Nafion 鉍膜電極 溶出伏安法【新型鉍膜電極溶出伏安法測定痕量重金屬元素】相關文章：
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