SiO2/ZnO復合納米粒子的制備及表征

SiO2/ZnO復合納米粒子的制備及表征

采用雙注控制沉積法(Controlled Double-Jet Precipitation,CDJP)將反應物添加到含有SiO2的溶液中,通過直接的表面反應來制備單分散的SiO2/ZnO復合納米粒子,并對其進行了表征.透射電鏡(TEM)觀察表明,SiO2表面有一層ZnO納米顆粒或薄層.對復合納米粒子SiO2/ZnO進行X射線衍射(XRD)分析,復合顆粒的衍射峰與單獨的氧化鋅的衍射峰完全一致.能量彌散X射線法(EDX)分析表明,復合顆粒中含有Zn、Ai、O元素.熒光光譜表明有ZnO的吸收峰.

作 者： 夏海龍 唐芳瓊   作者單位： 中國科學院理化技術研究所,北京,100101  刊 名： 無機化學學報  ISTIC SCI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF INORGANIC CHEMISTRY  年，卷(期)： 2002 18(8)  分類號： O614.24 O613.72  關鍵詞： SiO2/ZnO復合納米粒子   雙注控制沉積法   制備   表征  

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