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云紋干涉載頻調制技術及分析
在物體變形場的測量中,云紋干涉的載頻調制技術有重要作用.在云紋干涉中,對稱光照明產生的衍射光沿試件柵表面的法線傳播并產生干涉.通過改變照明光的入射角度,可實現變形條紋場的空間調制.通過光程差的分析說明了載波條紋產生的機理,得出了載波頻率與照明光入射角度變化之間的關系式.利用三點彎曲加載結合二維載頻調制實驗,給出了實驗結果.證明了在初始條紋較少的情況下,載頻調制技術能有效地測量物體的位移場.
作 者： 孫平 SUN Ping 作者單位： 山東師范大學,物理與電子科學學院,濟南,250014 刊 名： 光子學報 ISTIC PKU 英文刊名： ACTA PHOTONICA SINICA 年，卷(期)： 2007 36(8) 分類號： O348 關鍵詞： 物理光學 云紋干涉 調制 載波【云紋干涉載頻調制技術及分析】相關文章：
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