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基于田口質量損失函數的控制圖優化設計
由于在生產實際中存在大量非正態過程,傳統控制圖將失去其有效性.針對實際生產過程中質量特性不服從正態分布的情況,以Burr分布作為非正態數據的近似分布,結合均值隨機漂移和田口質量損失函數,給出(X)圖的經濟統計最優設計方法;根據過程輸出數據,提出最優樣本容量及控制限的選擇.數值計算的結果顯示該方法可靠;通過靈敏度分析,研究了各參數對最優設計的影響.
作 者： 張斌 韓之俊 陳湘來 ZHANG Bin HAN Zhi-jun CHEN Xiang-lai 作者單位： 張斌,ZHANG Bin(南京理工大學,經濟管理學院,江蘇,南京,210096;南京信息工程大學,統計學系,江蘇,南京,210044)韓之俊,陳湘來,HAN Zhi-jun,CHEN Xiang-lai(南京理工大學,經濟管理學院,江蘇,南京,210096)
刊 名： 工業工程 ISTIC PKU 英文刊名： INDUSTRIAL ENGINEERING JOURNAL 年，卷(期)： 2007 10(6) 分類號： O213.1 關鍵詞： Burr分布 田口質量損失函數 控制圖【基于田口質量損失函數的控制圖優化設計】相關文章：
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