DNA在納米碳管上的檢測及甘草素-Cu(Ⅱ)對DNA的損傷研究

DNA在納米碳管上的檢測及甘草素-Cu(Ⅱ)對DNA的損傷研究

本文用恒電位溶出法測定了單鏈、雙鏈DNA在納米碳管上的電化學行為,詳細討論了各種因素的影響,并研究了甘草素在銅離子的存在下對DNA的損傷作用,發現在0.84 V左右出現一個新峰,1.06 V的峰升高.同時用壓電石英阻抗技術實時監測了這個損傷過程,進行進一步地佐證,頻率的變化是損傷過程中的DNA降解導致的溶液粘密度變化所產生的.

作 者： 劉英菊 袁銳昌 黎艷玲 LIU Ying-ju YUAN Rui-chang LI Yan-ling   作者單位： 劉英菊,袁銳昌,LIU Ying-ju,YUAN Rui-chang(華南農業大學理學院應用化學系,廣東,廣州,510642)

黎艷玲,LI Yan-ling(長沙卷煙廠科研所,湖南,長沙,410007) 

刊 名： 化學研究與應用  ISTIC PKU 英文刊名： CHEMICAL RESEARCH AND APPLICATION  年，卷(期)： 2007 19(6)  分類號： O657.1  關鍵詞： 甘草素   納米碳管   DNA損傷   恒電位溶出分析  

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