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利用高光譜微分指數進行冬小麥條銹病病情的診斷研究
人工田間會誘發(fā)不同等級的小麥條銹病,在不同生育期需測定染病冬小麥冠層光譜以及相應小麥的病情指數.把冠層光譜一階微分數據與相應的小麥病情指數進行相關分析,采用單變量線性和非線性回歸技術,選取部分樣本建立小麥的病情指數估測模型,并利用其余的樣本對模型進行檢驗.結果表明,病情指數與一階微分在432～582 nm,637～70 1nm和715～765 nm波長區(qū)域內具有極顯著的相關性.以藍邊內一階微分總和(SDb)與紅邊內一階微分總和(SDr)的歸一化值作為變量的模型是估測病情指數的最佳模型,其RMSE為5.73%.研究表明,可用高光譜信息監(jiān)測作物的病害情況,且精度較高.利用高光譜遙感監(jiān)測病害程度及其影響具有實際的應用價值.
陳云浩,CHEN Yun-hao(北京師范大學,資源學院,北京,100875)
黃文江,HUANG Wen-jiang(國家農業(yè)信息化工程技術研究中心,北京,100089)
刊 名： 光學技術 ISTIC PKU 英文刊名： OPTICAL TECHNIQUE 年，卷(期)： 2007 33(4) 分類號： O433.4 S127 關鍵詞： 高光譜 冬小麥 條銹病 病情指數 反演模型【利用高光譜微分指數進行冬小麥條銹病病情的診斷研究】相關文章：
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