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鎢酸鉛晶體中痕量雜質元素的分布特征及其對晶體性能的影響
利用GDMS分別測試了用Bridgman方法生長的十個全尺寸鎢酸鉛晶體頂、底兩端的雜質含量,發現在PWO晶體中,K、Na、Mo、As、Y等雜質元素富集于晶體的頂部,具有分凝系數小于1 的特征.Ca和Ba雜質則富集于晶體的底部,具有分凝系數大于1 的特征,Al、Si、Cu等雜質的分布缺乏明顯的規律性.這些雜質主要來源于生長晶體時所使用的WO3原料.根據摻雜實驗,認為K、Na、Mo、As等是影響PWO閃爍性能的有害雜質,Ca和Ba是無害雜質,Y是有益雜質,Al、Si、Cu等雜質的行為尚不明確.
作 者： 任國浩 沈定中 王紹華 倪海洪 蔡曉琳 作者單位： 中國科學院上海硅酸鹽研究所,上海,201800 刊 名： 人工晶體學報 ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF SYNTHETIC CRYSTALS 年，卷(期)： 2002 31(5) 分類號： O73 關鍵詞： 鎢酸鉛 雜質 分布 效應【鎢酸鉛晶體中痕量雜質元素的分布特征及其對晶體性能的影響】相關文章：
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