改進的SVM算法及其在故障診斷中的應用研究

改進的SVM算法及其在故障診斷中的應用研究

介紹了支持向量機用于解決模式分類問題的基本原理,在對傳統的多分類方法OVO(one-versus-one)深入分析的基礎上,針對其存在的不可分類區問題,提出了一種改進的模式分類方法KSVM(KNN-SVM),將k-近鄰方法嵌入到SVM算法中解決不可分類區問題,進一步提高了分類準確率.應用KSVM分類方法進行模擬電路的故障診斷,實驗結果驗證了該方法的有效性和實用性.

作 者： 張金澤 單甘霖 ZHANG Jin-ze SHAN Gan-lin   作者單位： 軍械工程學院光學與電子工程系,石家莊,050003  刊 名： 電光與控制  ISTIC PKU 英文刊名： ELECTRONICS OPTICS & CONTROL  年，卷(期)： 2006 13(6)  分類號： V271.4 TP181  關鍵詞： 支持向量機(SVM)   多類分類方法   k-近鄰法   故障診斷  

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