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美國光學特性測量技術發(fā)展情況及特點
簡要介紹了美國地基、空基、天基光學特性測量技術的發(fā)展情況,對其在光學特性測量技術領域發(fā)展的特點給予了分析、總結.
作 者： 邢強林 譚謙 唐嘉 XING Qiang-lin TAN Qian TANG Jia 作者單位： 北京跟蹤與通信技術研究所·北京·100094 刊 名： 飛行器測控學報 ISTIC 英文刊名： JOURNAL OF SPACECRAFT TT & C TECHNOLOGY 年，卷(期)： 2007 26(1) 分類號： V556.5 關鍵詞： 光學特性測量 紅外輻射特性測量 光譜特性測量【美國光學特性測量技術發(fā)展情況及特點】相關文章：
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